![\"ingrandimento](\"https:\/\/www.plastanalisi.com\/wp-content\/uploads\/2025\/02\/ingrandimento-SEM-250-micron-300x238.png\")
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Il cliente riferisce presenza di contaminazione da materiale nero polverulento all’interno di un tubo in silicone. L\u2019obbiettivo dell\u2019indagine \u00e8 quello di determinare la natura chimica della contaminazione e ricercare quindi la causa del difetto.<\/p>\n
Il laboratorio Plastnalisi decide di procedere all\u2019analisi del polverino mediante tecnica di analisi al microscopio elettronico (SEM-EDS). Il SEM-EDS \u00e8 un potente mezzo di indagine su solidi chimicamente disomogenei a scala microscopica e su rivestimenti.<\/p>\n
Nel microscopio elettronico a scansione (SEM) una “sonda” molto sottile di elettroni con energia fino a 30 keV viene focalizzata sulla superficie del campione all\u2019interno del microscopio e viene indotta a esercitare una scansione in forma di una successione di linee parallele. Alcuni fenomeni si verificano sulla superficie sottoposta all\u2019impatto degli elettroni; i pi\u00f9 importanti per la microscopia elettronica sono:
\n1) l\u2019emissione di elettroni secondari
\n2) la riemissione o riflessione di elettroni ad alta energia o retrodiffusi appartenenti al raggio primario.
\nLa configurazione e la disposizione dei rivelatori dei due tipi di elettroni emessi \u00e8 tale che vengono sfruttate al meglio le peculiarit\u00e0 del meccanismo di emissione. In particolare gli elettroni secondari vengono utilizzati per la costruzione di immagini ingrandite fino a 200.000x e risolte fino a 5nm.<\/p>\n
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La microanalisi nel microscopio elettronico (SEM) a scansione viene realizzata misurando l\u2019energia e la distribuzione delle intensit\u00e0 dei raggi X generati dal fascio elettronico sul campione utilizzando un rivelatore a dispersione di energia EDS ( spettrometria per dispersione di energia).<\/p>\n
![\"microanalisi](\"https:\/\/www.plastanalisi.com\/wp-content\/uploads\/2025\/02\/microanalisi-microscopio-elettronico.png\")
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La microanalisi elementare SEM-EDS del materiale nero contaminante evidenzia la presenza di rame e zolfo oltre a silicio, ossigeno e carbonio.
\nIl rame e lo zolfo indicano la presenza di solfuri di zolfo: il rapporto in atomi Cu\/S \u00e8 circa 1 ed \u00e8 indicativo del solfuro di rame II (CuS – nero). Il silicio \u00e8 riferibile a residui di silicone del tubo, mentre il carbonio e l’ossigeno sono in parte riferibili a residui di silicone e in parte ad altro materiale organico.
\nIl polverino nero viene quindi identificato e caratterizzato come Solfuro di Zolfo (CuS) che \u00e8 proprio un composto di colore nero.[\/et_pb_text][\/et_pb_column][\/et_pb_row][\/et_pb_section]<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"
Cosa chiede il cliente Il cliente riferisce presenza di contaminazione da materiale nero polverulento all’interno di un tubo in silicone. L\u2019obbiettivo dell\u2019indagine \u00e8 quello di determinare la natura chimica della contaminazione e ricercare quindi la causa del difetto. La soluzione proposta da Plastanalisi Il laboratorio Plastnalisi decide di procedere all\u2019analisi del polverino mediante tecnica di […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1089795,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_et_pb_use_builder":"on","_et_pb_old_content":"","_et_gb_content_width":"","footnotes":""},"categories":[10],"tags":[],"class_list":["post-1089108","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-case-study"],"yoast_head":"\n